634836 Рентгеноспектральный микроанализ тонких пленок на подложках с вариацией угла отбора рентгеновского излучения :диссертация ... кандидата технических наук : 02.00.02 Костылева, Ольга Петровна ,

Общее. Диссертация Рентгеноспектральный микроанализ тонких пленок на подложках с вариацией угла отбора рентгеновского излучения :диссертация ... кандидата технических наук : 02.00.02, ,