45970 Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04 Заблоцкий, Алексей Васильевич 2009, Долгопрудный

Физика. Диссертация Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04, Долгопрудный, 2009