Физика. Диссертация Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.01 / Свиташева Светлана Николаевна; [Место защиты: НИУ "Институт ядерной физики Сибирского отделения РАН"], Новосибирск, 2014