Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы. Диссертация Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : диссертация ... кандидата технических наук : 05.11.13, Ижевск, 2000