Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы. Диссертация Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 05.11.14, 05.11.13, Ижевск, 2004