430259
Близкопольная сканирующая зондовая микроскопия для формирования и измерения свойств наноразмерных структур : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01 Душкин, Игорь Валерьевич
2003, Москва
Электроника. Диссертация Близкопольная сканирующая зондовая микроскопия для формирования и измерения свойств наноразмерных структур : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01, Москва, 2003