430259 Близкопольная сканирующая зондовая микроскопия для формирования и измерения свойств наноразмерных структур : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01 Душкин, Игорь Валерьевич 2003, Москва

Электроника. Диссертация Близкопольная сканирующая зондовая микроскопия для формирования и измерения свойств наноразмерных структур : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01, Москва, 2003