Электроника. Диссертация Многофункциональная информационно-измерительная система сканирующей зондовой микроскопии атомарного разрешения : Туннельной, атомно-силовой, оптической ближнего поля : диссертация ... доктора технических наук : 05.11.16, 05.27.01, Саратов, 2004