9988 Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07, 05.27.01 Шабельникова, Яна Леонидовна 2013, Москва

Электроника. Диссертация Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07, 05.27.01, Москва, 2013